何益海，尹超，王林波.基于质量偏差的制造过程产品可靠性下滑风险评价方法，专利号：201410490761.X，2017年5月3日授权。
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发明摘要：
一种基于质量偏差的制造过程产品可靠性下滑风险评价方法,步骤如下：1、建立制造过程产品可靠性下滑风险评价指标体系；2、依据步骤1中的指标体系收集产品制造稳态下的历史数据；3、利用结构方程检验步骤1中建立的指标体系与步骤2中采集的历史数据的适配性,若适配性检验通过,则进入步骤4；若适配性检验不通过,则回到步骤1,对指标体系进行修正；4、将步骤3中检验通过后的指标体系应用到产品正常批量生产状态下,计算每个批次的制造过程产品可靠性下滑风险RS；5、计算每个批次的制造过程产品可靠性下滑风险RS的置信区间；6、应用计算得到的制造过程产品可靠性下滑风险RS及置信区间监控产品批量生产状态下各批次可靠性下滑风险的波动情况。
